菲希爾代理FISCHERSCOPE X射線熒光儀器

菲希爾代理FISCHERSCOPE X射線熒光儀器

X射線熒光儀器在無損無接觸的涂層厚度測量和材料分析領(lǐng)域，F(xiàn)ISCHERSCOPE X射線儀器是理想的選擇。自1983年以來，菲希爾x射線測厚儀我們的X射線儀器已成為幾乎所有主要行業(yè)質(zhì)量測試的一個組成部分。菲希爾x射線測厚儀我們的儀器以其精確性、準(zhǔn)確性和耐用性而聞名。同時，F(xiàn)ISCHERSCOPE X射線的設(shè)計(jì)易于使用，并在測量的各個方面為您提供支持。 這使您可以專注于手頭上的質(zhì)量工作，而不是測量儀器上。

X射線熒光儀器我們的X射線儀器配有專用的FischerWinFTM軟件，菲希爾x射線測厚儀旨在規(guī)范測量過程。這包括控制X射線、實(shí)現(xiàn)測量的可追溯性、生成個性化測量報告以及與內(nèi)部網(wǎng)絡(luò)交互。

X射線熒光儀器我們種類齊全的X射線設(shè)計(jì)用于高可靠性地測量不同的應(yīng)用。菲希爾代理電子、電鍍、汽車、黃金和珠寶等領(lǐng)域的公司以及更多的公司都依賴于FISCHERSCOPE X射線儀器進(jìn)行質(zhì)量控制。菲希爾代理現(xiàn)在就來看看我們的X光儀器并找出原因吧！

菲希爾x射線測厚儀XAN 215 X射線熒光鍍層測厚儀

產(chǎn)品用途

典型的應(yīng)用領(lǐng)域有:

● 珠寶、貴金屬和牙科用合金分析

● 黃金制品和K金制品分析

● 鉑金制品和銀制品分析

● 銠制品分析

● 其他合金分析和鍍層厚度測量

● 多鍍層厚度測量